地球资源数据云——数据资源详情

集成电路静态缺陷检测系统MRAM测试实验数据

该数据集包含使用我们自己设计的 IC 静态缺陷扫描定位系统进行激光扫描期间电气参数变化的数据，用于检测 MRAM 器件中的静态缺陷。通过分析异常芯片与正常芯片的数据，我们可以识别可能发生异常损坏的区域。